Dengan probe piezo-elektrik dan stylus diamond tip radius 2 µm sesuai standar ISO/DIN, R-135 mampu mendeteksi variasi permukaan halus hingga kasar. Tiga pilihan cut-off (0.25, 0.8, 2.5 mm) dan resolusi tinggi memungkinkan fleksibilitas pengukuran sesuai material dan kondisi.
CV Instrument Surface Roughness Tester R-135 Inspex
R-135 dilengkapi output data via RS-232, memungkinkan hasil pengukuran diekspor ke komputer atau printer — memudahkan dokumentasi QC, traceability, dan analisis batch produksi. Desain ringkas dan baterai 9 V membuatnya ideal untuk pengukuran on-site maupun di lab.
Features
overview
| Item | Spesifikasi / Nilai |
|---|---|
| Model | CV Instrument Surface Roughness Tester R-135 (Inspex) |
| Parameter diukur | Ra, Rz |
| Range Ra | 0.03 µm – 6.35 µm |
| Range Rz | 0.2 µm – 25.3 µm |
| Resolusi tampilan | 0.01 µm / 1 µin |
| Cut-off (wavelength) | 0.25 mm, 0.8 mm, 2.5 mm — dengan filter 2RC; pilihan 1, 3, atau 5 kali (tergantung cut-off) |
| Probe type | Piezo-electric stylus dengan ujung diamond radius 2 µm |
| Maksimum gaya stylus | 15.0 mN (1500 mgf) |
| Output data | RS-232 untuk transfer ke PC atau printer (khusus model R-135) |
| Power supply | Baterai alkaline 9 V (baterai standar) |
| Kapasitas baterai | ± 3000 pengukuran per baterai |
| Ukuran & portabilitas | Portable, cocok untuk penggunaan di lab maupun workshop/onsite |
