DIA-COME C3 memberikan akurasi ± 2 µm dan pengaturan gaya ukur kontinu untuk mencegah deformasi bagian sensitif. Rentang pengukuran mencapai I.D. 35 mm hingga 450 mm dan O.D. hingga 420 mm, menjadikannya ideal untuk inspeksi di lini produksi maupun laboratorium metrologi.

Gear Gauges DIA COME C3 Series Diatest

Dengan struktur kokoh dan fleksibel, meja pengukuran DIA-COME C3 mendukung berbagai jenis probe: dial mekanik, digital, probe induktif, dan incremental. Data hasil ukur dapat dihubungkan ke PC, DIATRON, atau printer, serta disetel menggunakan master nol dan blok ukur.

Features

3-Titik Pengukuran (Three-Point)

Meja C3 memiliki dua kontak tetap dan satu kontak bergerak untuk stabilitas pengukuran.

Rentang Pengukuran Besar

I.D. dari 35 mm sampai 450 mm; O.D. dari 0 sampai 420 mm.

Pengaturan Gaya Ukur Variabel

Gaya ukur bisa disesuaikan secara kontinu agar tidak merusak benda kerja.

Akurasi Tinggi

Repeatabilitas dan presisi ± 2 µm.

Fleksibilitas Probe

Mendukung indikator mekanik maupun digital, probe induktif/incremental, dengan koneksi ke PC/DIATRON.

Overview

Parameter	Nilai / Detail
Model	DIATEST DIA-COME C3 Series (3-point measuring table)
Tipe Kontak	Dua kontak tetap + satu kontak bergerak (“3-titik”)
Measuring Range (Moving Contact)	20 mm rentang gerak kontak bergerak
Rentang I.D. (Internal Diameter)	35 – 450 mm
Rentang O.D. (External Diameter)	0 – 420 mm
Pengaturan Gaya Ukur	Stepless / kontinu (tanpa diskrit) agar tidak merusak benda kerja
Presisi / Repeatabilitas	± 2 µm
Aksesori Pengukuran	Banyak kit opsional: anvils bola, akses pengukuran tapers, cek rata-ratanya.
Jenis Probe yang Digunakan	Indikator mekanik, digital, probe induktif / incremental, PC, DIATRON, printer.
Kondisi Kerja	Struktur kokoh, tahan cipratan coolant dan serpihan mesin (swarf)