Pengoperasian cukup mudah: tempel tape ke area yang bersih, tekan hingga padat, lepas tape dan masukkan ke micrometer dial untuk membaca nilai profil. Hasilnya membantu kontrol mutu pelapisan di galangan, struktur industri maupun lapangan pengecatan.

Testex DTG-M Dial Thickness Gage (Metric)

Dengan dial berunit metrik dan konstruksi presisi (anvil diameter, gaya penutup, keakuratan) yang disesuaikan untuk penggunaan dengan replica tape, alat ini menyediakan pengukuran yang bisa diterima secara internasional dan kompatibel dengan standar seperti ISO 8503‑5.

Features

Unit Metrik (µm)

Model DTG‑M menggunakan skala metrik untuk kemudahan penggunaan di wilayah yang memakai µm.

Dirancang khusus untuk replica tape

Alat memiliki gaya tutup, diameter anvil dan spesifikasi parallelism yang sesuai untuk penggunaan dengan Press‑O‑Film tape.

Metode pengukuran profil puncak‑ke‑lembah

Mengukur tinggi puncak minus lembah dari cetakan tape — sesuai metode ASTM D4417 (Metode C) dan ISO 8503‑5.

Penggunaan lapangan yang sederhana

Tidak memerlukan daya listrik; micrometer mekanik memungkinkan pengukuran cepat di lokasi.

Dukungan standar & dokumentasi

Produk disediakan oleh Testex yang mencantumkan spesifikasi dan kompatibilitas standar internasional.

Overview

Parameter	Nilai / Keterangan
Model	DTG‑M Dial Thickness Gage (Metric units).
Digunakan dengan	Testex Press‑O‑Film replica tape untuk pengukuran profil permukaan blast‑cleaned steel.
Rentang pengukuran (dengan replica tape)	Contoh rentang tape: Coarse 20‑64 µm, X‑Coarse 38‑115 µm, X‑Coarse Plus 100‑147 µm.
Akurasi micrometer	Untuk versi metrik: akurasi sekitar ±5 µm untuk ≤250 µm dan ±(5 µm +1%) untuk >250 µm.
Resolusi	1 µm (metrik) / 0.1 mil (imperial) — versi metrik memakai 1 µm resolusi.
Anvil diameter	Sekitar 6.35 mm (0.25 in) untuk area kontak yang sesuai.
Closing force (gaya tutup)	Sekitar 1.1 N (≈0.25 lb) untuk gaya penutup yang diperlukan agar sesuai spesifikasi tape.
Kepatuhan standar	Menunjang metode: ASTM D4417 (Metode C), ISO 8503‑5, NACE RP0287.